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高性價(jià)比掃描電鏡 Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求,這些基本組件不僅可以保證電鏡高質(zhì)量的成像,而且能夠?qū)崿F(xiàn)快速裝載樣品,短時(shí)間內(nèi)成像。精確的自動(dòng)聚焦和電子束自動(dòng)對中使飛納電鏡系列成為市場上受用戶歡迎、操作簡單的智能型掃描電鏡。對于有高分辨率成像需求的用戶來說, Phenom Pure 可以提供經(jīng)濟(jì)、高效的解決方案。
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升級,易于操作,元素分析更快速。
Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源,使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像,且低電壓性能優(yōu)異。飛納臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 低電壓成像優(yōu)勢明顯,可減輕電子束對樣品的損傷和穿透,更好地觀測絕緣和電子束敏感的樣品,可以還原樣品真實(shí)形貌。
第六代 Phenom Pro 高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件,Phenom Pro 可以適用于廣泛的研究領(lǐng)域。